LitePoint、超広帯域 (UWB) デバイスを対象とした顧客向け統合テスト ソリューションの分野でNXP との提携を発表

IoT 機器、自動車、およびモバイル デバイスで使用するアプリケーション向け NXP 製 UWB ソリューションの品質を検証する統合ソリューション

カリフォルニア州、サンノゼ。

ワイヤレス テスト ソリューションのリーディング カンパニーである LitePoint は、この度、NXP® Semiconductors との提携を発表しました。今回の提携は、NXP が最近発表したセキュアな高精度測距チップセット、SR100T を搭載したデバイスの品質検証に関するものです。この提携により、NXP の UWB 技術を採用したデバイスのテストと校正に、LitePoint の統合ソリューション IQgig-UWB™ が使えるようになりました。

UWB は、自動車やモバイル製品に搭載されたセキュリティ アプリケーションに正確な位置情報を提供できる技術です。Bluetooth と近距離無線通信 (NFC) の技術を組み合わせたソリューションとして、6 月初旬には NXP の UWB 技術が発表されており、正確な位置特定による高度な偽装防止と、パッシブ スマート アクセスの優れたコンシューマー エクスペリエンスが実現されます。

NXP の UWB は、一般消費者向けと企業向けの両方において、正確な位置情報を必要とする IoT (Internet of Things) アプリケーションで採用されています。また、スマート モバイル デバイス、RF モジュール、自動車業界の Tier 1 および Tier 2 サプライヤー、委託製造業者などでも用いられています。

IQgig-UWB は、UWB 技術に対応したデバイスの校正および検証を目的として LitePoint が提供する、世界初の完全統合テスト ソリューションです。

「企業向けと一般消費者向けのいずれにおいても、多くの IoT アプリケーションで重要になる要素といえばセキュリティです。私たちが開発した新しい UWB チップセットは、最高品質の製品を実現するうえできっと役立つはずです」と、NXP Semiconductors でマーケティング部門のシニア ディレクターを務める Derek Park 氏は述べています。「当社が LitePoint の IQgig-UWB テスト ソリューションを統合したのは、UWB デバイスを簡単に校正および検証でき、市場化までの期間の短縮が期待できると考えたからです。UWB 関連の機能をすばやく包括的にテストする必要がある場合には、ぜひお勧めしたいソリューションですね。」

また、LitePoint のプロダクト マーケティング担当ディレクターである Adam Smith は、「IQgig-UWB は、R&D 部門から製造部門までが使える完全統合テスト システムです。NXP Semiconductors とは長期にわたって協力関係を維持しており、今回 IQgig-UWB が採用されたことは、このソリューションに対する大きな信頼の表れだと思います。今後も良い提携関係が続くことを願ってやみません」と語っています。

技術的詳細

IQgig-UWB テスト プラットフォームにより、UWB 技術 (IEEE 802.15.4z を含む) に対応したデバイスについて包括的な物理層テストと校正を実施できます。高精度のトリガーと応答メカニズムを備えたこのシステムが、ピコ秒レベルの精度を備えた Time of Flight (ToF) 測定と、1 GHz 以上のシングルショット帯域幅と -100 dBm までの受信感度テストを伴う包括的な送受信機テストを可能にします。

詳細情報については、LitePoint の Web サイトをご覧ください。