LitePoint 與 NXP 合作，推出整合式超寬頻 (UWB) 裝置測試解決方案以因應客戶需求

— 25 9 月, 2019 —

無線測試解決方案領導廠商 LitePoint，今日宣布與 NXP^® Semiconductors 合作，共同驗證使用 NXP 近期發表之安全 UWB 精密測距晶片組 SR100T 的裝置品質。客戶將可使用整合的 LitePoint IQgig-UWB™ 解決方案，測試並校準使用 NXP 之 UWB 技術的裝置。

UWB 是一項精密定位通訊技術，可為汽車與行動裝置產品提供安全應用服務。NXP UWB 技術在六月初便包含在結合了藍牙與近場通訊 (NFC) 技術的解決方案中，並完成發佈，該技術能進行準確定位，提供高度防偽的安全防護，為消費者帶來傑出的被動式智慧存取體驗。

NXP UWB 是針對需測得準確位置的消費性與工業物聯網 (IoT) 應用設備所打造。其他目標市場包括行動智慧裝置、RF 模組、第 1 級/第 2 級汽車供應商與合約製造商。

LitePoint 的 IQgig-UWB 測試平台，是第一款校準與驗證 UWB 技術裝置的完全整合式測試解決方案。

「對許多工業及消費性物聯網應用領域來說，安全性扮演著關鍵性的角色，而我們新推出的 UWB 晶片組能確保產品達到最高品質。」NXP Semiconductors 行銷資深總監 Derek Park 表示。「我們在整合 LitePoint IQgig-UWB 測試解決方案時，目標是讓它能夠簡化 UWB 裝置的校準與驗證作業，並達到快速上市的目的。對於需要快速與完整的 UWB 功能測試的人士而言，我們會推薦使用這款解決方案。」

「IQgig-UWB 是一套完全整合的測試系統，能提供從研發實驗室到生產線的一貫測試流程。」LitePoint 產品行銷總監 Adam Smith 說道。「我們與 NXP Semiconductors 已經是多年的合作夥伴，而這次 IQgig-UWB 獲選，更證明這項解決方案值得推薦。我們期待未來能繼續成功合作。」

 

技術詳情

IQgig-UWB 測試平台運用 UWB 技術 (包括 IEEE 802.15.4z)，提供完整的實體層測試與裝置校準。此系統具備精準觸發與回應機制，能進行達皮秒等級精準度的飛時測距 (ToF) 測量作業，並進行全方位的發送器與接收器測試 (單發脈衝頻寬超過 1 GHz，而接受器敏感度低達 -100 dBm)。

如需詳細資訊，請造訪 litepoint.com。